- Unités de source et de mesure PXIe pour applications de test à haute précision

Les cinq unités de source et de mesure (SMU, Source Measure Unit) de Keysight, référencées M9601A, M9614A, M9615A, M9602A et M9603A, et proposées sous forme de cartes au standard PXIe, sont destinées à des applications de test nécessitant haute précision, haute résolution et flexibilité de mesure, y compris pour la caractérisation courant-tension (IV), le test des semi-conducteurs, ainsi que pour d'autres dispositifs non linéaires. Ces instruments électroniques sont capables de rechercher et de mesurer en même temps. Ils peuvent forcer avec précision la tension ou le courant et mesurer simultanément une tension et/ou un courant précis....

- SMU M9601A : prise en charge de mesures précises jusqu'à 210 V/315 mA avec une résolution allant jusqu'à 500 nV/10 fA

- SMU MP9601A : mesure par impulsions et par échantillonnage permettent à l’appareil d'effectuer des mesures allant du courant continu au pulsé jusqu'à 20 μs à une fréquence d'échantillonnage de 1,25 Méch./s

- SMU M9614A et M9615A : appareils de précision à cinq canaux adaptés aux applications nécessitant une densité de canaux élevée, telles que les tests de fiabilité des semi-conducteurs et les tests de circuits intégrés (IC)

- SMU M9614A et M9615A : prise en charge des mesures précises jusqu'à 30 V/500 mA avec une résolution allant jusqu'à 6 µV/10 pA

- SMU M9602A et M9603A : équipements de précision avec une largeur d'impulsion étroite (10 μs), une fréquence d'échantillonnage jusqu'à 15 Méch./s et une large plage de sortie

 

 

 

Liste des produits de l'entreprise
- Carte AXIe d’acquisition et de traitement de données - Logiciel pour protocole USB-PD disponible pour les oscilloscopes
- Logiciel pour protocole USB 3.1 Gen2 disponible pour une famille d’oscilloscopes - Plate-forme logicielle pour le contrôle d’instruments de test
- Châssis au standard PXIe - Oscilloscopes économiques et pédagogiques
- Solutions de test sur oscilloscope pour les normes Mipi D-PHY et C-PHY - Système de mesure de tests paramétriques
- Solutions de test de réseaux Ethernet automobiles - Microsonde pour oscilloscopes haute performance
- Système d’acquisition de données avec multimètre à 6,5 chiffres intégré - Récepteur EMI avec analyse dans le domaine temporel et en temps réel
- Logiciel de conception et de simulation de systèmes RF - Système PXIe de test de bruit de phase
- Solution de test automatisé pour les récepteurs Gigabit Ethernet automobiles - Sondes de mesure différentielle pour le test de mémoires DDR5 et LPDDR5
- Oscilloscopes 200 MHz adaptés au monde de l’éducation - Unités de source et de mesure PXIe pour applications de test à haute précision
- Vérification de la couche physique des interfaces SerDes dans l’automobile - Testeur de dispositifs de puissance à double impulsion
- Oscilloscope de 200 MHz à 1 GHz de bande passante avec “sept instruments en un” - Solutions de surveillance à distance automatisées de réseaux 5G industriels privés
- Solution de test de réseau compacte pour l'IoT automobile et industriel - Unité de source et de mesure à haute densité pour la caractérisation des semi-conducteurs
- Oscilloscope doté d'une accélération matérielle avec des outils d'analyse automatisés - Système de test intégré à haute densité de cartes électroniques
- Analyseurs de signal pour des fréquences jusqu’à 26,5 GHz, 44 GHz et 54 GHz - Simulateur de circuits RF pour les concepteurs de puces RFIC