- Système PXIe de test de bruit de phase

Le système de mesure du bruit de phase de Keysight Technologies, référencé N5511A PNTS, permet aux utilisateurs expérimentés d'optimiser et de prouver les performances de leurs conceptions pour la 5G et autres systèmes de communication sans fil. Le bruit de phase est un bruit de modulation de phase indésirable présent sur presque tous les dispositifs à radiofréquence et à micro-ondes (oscillateurs, mélangeurs, diviseurs, multiplicateurs, amplificateurs…)....

- Facteur de forme : modules de détection de phase et de conversion de données logés dans un système PXIe 4U unique

- Disponibles dans trois gammes de fréquences : 50 kHz à 3 GHz, à  26,5 GHz ou à 40 GHz

- Fonctionnement sur un ou deux canaux

- Architecture flexible pour intégrer des sources de référence externes

- Mesures absolues et résiduelles sur les signaux à onde continue et à impulsions

 

Liste des produits de l'entreprise
- Carte AXIe d’acquisition et de traitement de données - Logiciel pour protocole USB-PD disponible pour les oscilloscopes
- Logiciel pour protocole USB 3.1 Gen2 disponible pour une famille d’oscilloscopes - Plate-forme logicielle pour le contrôle d’instruments de test
- Châssis au standard PXIe - Oscilloscopes économiques et pédagogiques
- Solutions de test sur oscilloscope pour les normes Mipi D-PHY et C-PHY - Système de mesure de tests paramétriques
- Solutions de test de réseaux Ethernet automobiles - Microsonde pour oscilloscopes haute performance
- Système d’acquisition de données avec multimètre à 6,5 chiffres intégré - Récepteur EMI avec analyse dans le domaine temporel et en temps réel
- Logiciel de conception et de simulation de systèmes RF - Système PXIe de test de bruit de phase
- Solution de test automatisé pour les récepteurs Gigabit Ethernet automobiles - Sondes de mesure différentielle pour le test de mémoires DDR5 et LPDDR5
- Oscilloscopes 200 MHz adaptés au monde de l’éducation - Unités de source et de mesure PXIe pour applications de test à haute précision
- Vérification de la couche physique des interfaces SerDes dans l’automobile - Testeur de dispositifs de puissance à double impulsion
- Oscilloscope de 200 MHz à 1 GHz de bande passante avec “sept instruments en un” - Solutions de surveillance à distance automatisées de réseaux 5G industriels privés
- Solution de test de réseau compacte pour l'IoT automobile et industriel - Unité de source et de mesure à haute densité pour la caractérisation des semi-conducteurs
- Oscilloscope doté d'une accélération matérielle avec des outils d'analyse automatisés - Système de test intégré à haute densité de cartes électroniques
- Analyseurs de signal pour des fréquences jusqu’à 26,5 GHz, 44 GHz et 54 GHz - Simulateur de circuits RF pour les concepteurs de puces RFIC