- Châssis au standard PXIe

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- Châssis au standard PXIe

Publié le 16-12-2016

Keysight Technologies propose trois châssis au standard PXI avec les modèles M9010A PXIe Gen3, M9005A PXIe Gen1 et M9018B PXIe Gen2. ...

- M9010A à 10 emplacements PXIe Gen3

- Fond de panier hybride avec un lien PCIe x8 à chaque emplacement et 1 emplacement système x24

- M9005A à 3 emplacements PXI hybrides et 2 emplacements PXIe

- M9018B à 18 emplacements PXIe Gen2 hybrides

- Système de refroidissement intégré

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Liste des produits de l'entreprise

- Carte AXIe d’acquisition et de traitement de données	- Logiciel pour protocole USB-PD disponible pour les oscilloscopes
- Logiciel pour protocole USB 3.1 Gen2 disponible pour une famille d’oscilloscopes	- Plate-forme logicielle pour le contrôle d’instruments de test
- Châssis au standard PXIe	- Oscilloscopes économiques et pédagogiques
- Solutions de test sur oscilloscope pour les normes Mipi D-PHY et C-PHY	- Système de mesure de tests paramétriques
- Solutions de test de réseaux Ethernet automobiles	- Microsonde pour oscilloscopes haute performance
- Système d’acquisition de données avec multimètre à 6,5 chiffres intégré	- Récepteur EMI avec analyse dans le domaine temporel et en temps réel
- Logiciel de conception et de simulation de systèmes RF	- Système PXIe de test de bruit de phase
- Solution de test automatisé pour les récepteurs Gigabit Ethernet automobiles	- Sondes de mesure différentielle pour le test de mémoires DDR5 et LPDDR5
- Oscilloscopes 200 MHz adaptés au monde de l’éducation	- Unités de source et de mesure PXIe pour applications de test à haute précision
- Vérification de la couche physique des interfaces SerDes dans l’automobile	- Testeur de dispositifs de puissance à double impulsion
- Oscilloscope de 200 MHz à 1 GHz de bande passante avec “sept instruments en un”	- Solutions de surveillance à distance automatisées de réseaux 5G industriels privés
- Solution de test de réseau compacte pour l'IoT automobile et industriel	- Unité de source et de mesure à haute densité pour la caractérisation des semi-conducteurs
- Oscilloscope doté d'une accélération matérielle avec des outils d'analyse automatisés	- Système de test intégré à haute densité de cartes électroniques
- Analyseurs de signal pour des fréquences jusqu’à 26,5 GHz, 44 GHz et 54 GHz	- Simulateur de circuits RF pour les concepteurs de puces RFIC

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