- Unité de source et de mesure à haute densité pour la caractérisation des semi-conducteurs

La solution PZ2100 Series High-Channel Density Precision de Keysight est une SMU (Source Measure Unit) qui procure 20 canaux de mesure de précision dans un espace occupant un rack de 1U pour la caractérisation des conceptions des circuits intégrés. Ce SMU permet de tester plusieurs ports sur un seul dispositif sous test tout au long du cycle de conception. La solution accélère les délais de test grâce à des options logicielles flexibles, à une intégration et une synchronisation simplifiée.

- Solution monobloc qui simplifie l'empilage et la synchronisation des canaux pour éliminer la complexité de l'intégration et du codage

- Interface graphique qui facilite le prototypage des tests, le débogage et le dépannage

- Logiciel PathWave IV Curve Measurement associé pour des mesures IV

- Aide à la synchronisation rapide, moins de 50 ns, sans programmation, et à la configuration du système

- Fonctions émetteur d'impulsions et numériseur en plus de la mesure précise de la tension et du courant continu

 

 

 

Liste des produits de l'entreprise
- Carte AXIe d’acquisition et de traitement de données - Logiciel pour protocole USB-PD disponible pour les oscilloscopes
- Logiciel pour protocole USB 3.1 Gen2 disponible pour une famille d’oscilloscopes - Plate-forme logicielle pour le contrôle d’instruments de test
- Châssis au standard PXIe - Oscilloscopes économiques et pédagogiques
- Solutions de test sur oscilloscope pour les normes Mipi D-PHY et C-PHY - Système de mesure de tests paramétriques
- Solutions de test de réseaux Ethernet automobiles - Microsonde pour oscilloscopes haute performance
- Système d’acquisition de données avec multimètre à 6,5 chiffres intégré - Récepteur EMI avec analyse dans le domaine temporel et en temps réel
- Logiciel de conception et de simulation de systèmes RF - Système PXIe de test de bruit de phase
- Solution de test automatisé pour les récepteurs Gigabit Ethernet automobiles - Sondes de mesure différentielle pour le test de mémoires DDR5 et LPDDR5
- Oscilloscopes 200 MHz adaptés au monde de l’éducation - Unités de source et de mesure PXIe pour applications de test à haute précision
- Vérification de la couche physique des interfaces SerDes dans l’automobile - Testeur de dispositifs de puissance à double impulsion
- Oscilloscope de 200 MHz à 1 GHz de bande passante avec “sept instruments en un” - Solutions de surveillance à distance automatisées de réseaux 5G industriels privés
- Solution de test de réseau compacte pour l'IoT automobile et industriel - Unité de source et de mesure à haute densité pour la caractérisation des semi-conducteurs
- Oscilloscope doté d'une accélération matérielle avec des outils d'analyse automatisés - Système de test intégré à haute densité de cartes électroniques
- Analyseurs de signal pour des fréquences jusqu’à 26,5 GHz, 44 GHz et 54 GHz