- Système de test intégré à haute densité de cartes électroniques

Le système de test intégré i3070 Series 7i de Keysight est un équipement de test automatisé de plaques de circuits imprimés (PCBA, Print Circuit Board Assembled), c’est-à-dire de cartes électroniques assemblées avec des composants le plus souvent soudés mais également sertis ou collés. L’équipement qui cible les cartes dotées d’un grand nombre de nœuds, dont certains à haute impédance, permet d'obtenir une couverture de test et un débit d’acquisition des données de test répondant aux exigences de tests complexes. Le i3070 Series 7i procure en fait aux fabricants un processus de test automatisé qui réduit la durée totale des tests.

- Algorithme de test de court-circuit amélioré composé de deux phases, une de détection et une d'isolation

- Procédure de test 50% plus rapide par rapport aux méthodes traditionnelles

- Système fondé sur des cartes à broches "Quad-Density" pour accueillir jusqu'à 5 760 nœuds de test

- Intégration des tests de supercondensateurs jusqu'à 100 farads grâce à une solution d'intégration qui élimine le besoin d'une électronique de fixation individuelle

- Support d’une fixation à fil court qui résout les problèmes associés à la fixation des fils longs, comme le bruit qui affecte la stabilité des tests

 

Liste des produits de l'entreprise
- Carte AXIe d’acquisition et de traitement de données - Logiciel pour protocole USB-PD disponible pour les oscilloscopes
- Logiciel pour protocole USB 3.1 Gen2 disponible pour une famille d’oscilloscopes - Plate-forme logicielle pour le contrôle d’instruments de test
- Châssis au standard PXIe - Oscilloscopes économiques et pédagogiques
- Solutions de test sur oscilloscope pour les normes Mipi D-PHY et C-PHY - Système de mesure de tests paramétriques
- Solutions de test de réseaux Ethernet automobiles - Microsonde pour oscilloscopes haute performance
- Système d’acquisition de données avec multimètre à 6,5 chiffres intégré - Récepteur EMI avec analyse dans le domaine temporel et en temps réel
- Logiciel de conception et de simulation de systèmes RF - Système PXIe de test de bruit de phase
- Solution de test automatisé pour les récepteurs Gigabit Ethernet automobiles - Sondes de mesure différentielle pour le test de mémoires DDR5 et LPDDR5
- Oscilloscopes 200 MHz adaptés au monde de l’éducation - Unités de source et de mesure PXIe pour applications de test à haute précision
- Vérification de la couche physique des interfaces SerDes dans l’automobile - Testeur de dispositifs de puissance à double impulsion
- Oscilloscope de 200 MHz à 1 GHz de bande passante avec “sept instruments en un” - Solutions de surveillance à distance automatisées de réseaux 5G industriels privés
- Solution de test de réseau compacte pour l'IoT automobile et industriel - Unité de source et de mesure à haute densité pour la caractérisation des semi-conducteurs
- Oscilloscope doté d'une accélération matérielle avec des outils d'analyse automatisés - Système de test intégré à haute densité de cartes électroniques
- Analyseurs de signal pour des fréquences jusqu’à 26,5 GHz, 44 GHz et 54 GHz