L’unité de source et mesure PXI de National Instruments vise à réduire les temps de test
Publié le 18-03-2014
par Francois Gauthier
Une fréquence d'échantillonnage 100 fois plus rapide pour une densité de voies au moins deux fois supérieure à celle des instruments traditionnels ! Avec sa technologie de SMU (Source Measure Unit) au format d’instrumentation ...modulaire PXI,...
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