Le système de test PXI multicanal d’Agilent analyse les formes d'onde LTE/LTE-Advanced
Publié le 02-07-2014
par Francois Gauthier
Basé sur des cartes en châssis au standard PXIe, le système de test LTE-Advanced multicanal d’Agilent Technologies a pour objet l’analyse et la compréhension des mécanismes d'agrégation de porteuses et de multiplexage ...spatial Mimo, introduits...
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