En élargissant sa gamme d’analyseurs de réseaux vectoriels PNA-X avec le modèle NA520xA PNA-X, le fournisseur d’instruments de test et mesure Keysight a pour ambition de simplifier les phases de configuration des tests de caractérisation complexes, et ce grâce à une architecture procurant aux ingénieurs quatre sources RF indépendantes, avec des modulateurs d’impulsions et des filtres de source.

Selon Keysight, lors de la validation de la conception d’un nouveau dispositif RF, les ingénieurs doivent s’assurer que la conception respecte les caractéristiques spectrales et de forme d’onde décrites dans la norme ou la spécification associée. Pour cela, ils doivent caractériser le comportement de composants actifs complexes afin de s’assurer que le système fonctionnera comme prévu lorsqu’il sera déployé. Or ce processus de caractérisation nécessite des configurations de test de plus en plus complexes qui augmentent la durée du cycle de test avec le risque d’introduire des erreurs dans le workflow de développement.

Dans le détail, l’analyseur de réseaux vectoriels NA520xA PNA-X s’attaque à cette problématique en intégrant quatre sources de signaux RF indépendantes et cohérentes en phase, jusqu’à 50 GHz (selon les versions) et à faible bruit de phase, éliminant de ce fait le recours à des sources externes. Deux récepteurs à faible bruit et des combinateurs de signaux assurent la mesure du facteur de bruit et la distorsion d’intermodulation dans deux directions, sans commutateur externe, et huit récepteurs à large bande et à plage dynamique permettent la mesure rapide des paramètres S, la réalisation d’une analyse du spectre en fréquence et des mesures RF pulsées à haute résolution. Des caractéristiques qui permettent notamment à l’instrument de tester le facteur de bruit bidirectionnel et la distorsion d’intermodulation sans avoir besoin de commutateurs externes.