Basé sur des cartes en châssis au standard PXIe, le système de test LTE-Advanced multicanal d’Agilent Technologies a pour objet l’analyse et la compréhension des mécanismes d'agrégation de porteuses et de multiplexage ...spatial Mimo, introduits dans les standards de communication sans fil LTE et LTE-Advanced. Il permet notamment de tester et de caractériser les composants et sous-systèmes RF mis en œuvre au sein des stations de base, microcellules, picocellules, répéteurs et appareils mobiles conçus pour le LTE/LTE-Advanced et intégrant des systèmes de réception/émission multi-antennaires et des configurations de test multicanal.

Pour ce faire, le banc de test d’Agilent propose de générer des formes d’onde complexes multicanaux LTE/LTE-A/Mimo et d'analyser simultanément ces canaux multiples dans le domaine fréquentiel et au niveau des modulations, dans les sens montant (uplink) et descendant (downlink). La technologie de déclenchement en fond de panier (trigger) assure la configuration et le routage des signaux de déclenchement synchronisés dans le temps pour les configurations de type Mimo. Ainsi, des tests Mimo synchronisés (2x2 ou 4x4) sont réalisés via ce banc de test en utilisant le générateur de signaux vectoriels (carte PXIe M9381A) et l’analyseur de signaux vectoriels (la carte PXIe M9391A) d’Agilent.

Cette combinaison affiche un EVM (Error Vector Magnitude), caractéristique de la qualité d’une transmission radio numérique, de 0,36% (pour un Mimo 4x4, avec 10 MHz de bande passante) et une précision dans la synchronisation temporelle entre canaux inférieure à 20 ns. Au-delà, la génération et l'analyse des signaux avec une bande passante de 160 MHz permettent de gérer les configurations d'agrégation de porteuses LTE-Advanced les plus courantes.