Anritsu propose un analyseur de réseau vectoriel à balayage unique de 70 kHz à 220 GHz

Anritsu VNA VectorStar + Analyseur de spectre

Avec la famille des analyseurs de réseaux vectoriels VectorStar VNA, dotés en option d’un analyseur de spectre intégré, le fournisseur japonais d’instruments de mesure Anritsu propose ce que la société estime être la première solution de ce type dotée d’une capacité d'analyse spectrale complète à balayage unique qui va de 70 kHz à 220 GHz, et ce avec un seul instrument.

VectorStar, dans sa configuration ME7838G, peut ainsi effectuer des mesures vectorielles à connexion unique, fondées sur la mesure du spectre de fréquence pour créer un environnement de test unique, efficace et précis, destiné à la vérification de dispositifs actifs et passifs pendant les étapes de conception, de dépannage ou de caractérisation.

Cette option “analyseur de spectre” est compatible avec tous les modèles bande de base des analyseurs de réseaux vectoriels VectorStar en configurations large bande et bande étroite. Cette intégration de deux instruments procure aux ingénieurs une méthode innovante pour transférer rapidement une mesure issue de l’analyseur vectoriel directement vers l'analyseur de spectre, sans modifier la configuration du test ni utiliser plusieurs instruments. Un approche notamment avantageuse, selon Anritsu, pour les applications impliquant des mélangeurs et des amplificateurs, y compris ceux avec plusieurs sorties ou des comparaisons entrée-sortie.

Dans la pratique, l'instrument assure une analyse simultanée et séquentielle des paramètres S et du spectre. Les mesures du domaine spectral des harmoniques, des parasites, d'autres produits de distorsion et du contenu fréquentiel général peuvent donc effectuées avec un seul instrument, ouvrant la voie à l’analyse simultanée de la réponse de l’analyseur vectoriel et de l’analyseur de spectre.

Au niveau applications, la solution est, selon Anritsu, particulièrement adaptée aux mesures sur les tranches de semi-conducteurs (wafers) car elle autorise une connexion directe. Les opérations de montage/démontage des dispositifs sous test sur le wafer, qui peuvent entraîner des erreurs de mesure majeures, sont ici éliminées puisqu’un seul instrument est mis en oeuvre. D’autre part l'étalonnage de la puissance peut se faire directement à l'extrémité de la sonde utilisée afin d’obtenir un degré élevé de précision et de répétabilité.

Les ingénieurs peuvent également utiliser l’analyseur de réseau vectoriel en tant que source de stimuli, et n'importe quel port de l’appareil comme récepteur pour les mesures scalaires. L'utilisation de plusieurs ports de test fournit alors une analyse de spectre multicanal, synchronisée avec les générateurs de signaux de balayage internes.

Deux configurations sont disponibles dans cette option analyseur de spectre. Le mode standard prend en charge l'analyse spectrale fondée sur des points pour des mesures plus rapides, ce qui le rend adapté à l'analyse de signaux connus. Quant à l'analyse de signaux inconnus, la solution peut être configurée avec un analyseur de spectre traditionnel.

A noter que cette solution, composée de l’anlayseur VectorStar ME7838G ainsi que d'une station de sonde MPI TS200, concue pour effectuer des mesures précises et reproductibles sur des wafers, sera présentée lors de l’European Microwave Week 2022 qui se tiendra à Milan en Italie du 27 au 29 septembre prochain.