Adaptée aux progrès réalisés dans le domaine des techniques laser de détection mises en œuvre via des diodes VCSEL (Vertical-Cavity Surface-Emitting Laser) et dans les équipements lidar, la technologie PulseMeter de Tektronix est capable de générer des impulsions de courant aussi courtes que 10 μs, en minimisant les effets de chauffage par effet Joule. ...

Cette technologie est implantée dans l’instrument 2601B-PULSE System SourceMeter qui intègre à la fois un générateur d’impulsions de courant à haute vitesse avec une source de courant continu et des fonctions de mesure, le tout dans le même appareil.

La caractéristique principale de la technologie PulseMeter est d’obtenir des impulsions de courant de 10 μs à 10 A et 10 V sans avoir besoin de régler manuellement la sortie pour correspondre à l'impédance du composant ou de l'équipement sous test (jusqu'à 3 μH), et ce quelles que soient l'amplitude et la largeur d'impulsion. Une caractéristique essentielle, selon Tektronix, pour minimiser l'auto-échauffement qui, pour les composants optiques, peut entraîner des mesures erronées et risque d'endommager l'équipement de test.

Le 2601B-PULSE comprend également toutes les gammes d'unités de mesure de source de courant et de tension (comme dans un SMU, Source Measure Unit), associées au logiciel de contrôle d'instruments d’origine Keithley, appelé KickStart, pour prendre en charge la fonction de génération d’impulsions de l’appareil.

« Le système 2601B-PULSE System SourceMeter apporte des capacités de test élevées aux ingénieurs, notamment à ceux qui travaillent dans les applications automobiles, pour les véhicules connectés, la conduite autonome et les véhicules électriques », précise Chris Bohn, vice-président et directeur général de Keithley/Tektronix.

L’appareil a ainsi été pensé en partie pour répondre aux besoins des tests des lasers à émission de surface à cavité verticale (VCSEL), qui sont essentiels pour les applications de détection et de télémétrie embarqués à bord des lidars. Il assure en particulier la caractérisation des dispositifs à semi-conducteurs, les tests de gestion de l'énergie et les tests de protection contre les surtensions. Les numériseurs doubles à 1 Méch./s sur 18 bits, intégrés, améliorent en outre la fonction de mesure du générateur d’impulsions autorisant les utilisateurs à acquérir simultanément des formes d'onde de courant et de tension d'impulsion, sans avoir besoin d'utiliser un instrument séparé.

Enfin, pour les applications de systèmes automatisés, la technologie TSP (Test Script Processor) exécute des programmes de test complets, y compris dans le cadre d’applications multicanaux dans lesquelles la fonction TSPLink de Keithley fonctionne afin d’exécuter des tests parallèles à haute vitesse.