National Instruments, fournisseur de systèmes matériels et logiciels de test et mesure, propose, avec la version 2.2 de son outil logiciel de test NI-RFmx pour systèmes de test RF au format PXI, des fonctions avancées pour analyser... les communications cellulaires de dernière génération. Bien que la norme 5G ne soit pas encore publiée, les ingénieurs peuvent associer ce logiciel à un VST (Vector Signal Transceiver, ou transcepteur de signaux vectoriels) de 2^e génération et employer diverses méthodes d'agrégation de porteuses pour tester des composants RF 4,5G et 5G, comme des émetteurs-récepteurs et des amplificateurs. Le VST est une classe d'instrument au format PXI qui combine un générateur de signaux vectoriels et un analyseur de signaux vectoriels (VSA) avec un contrôle et des fonctions de traitement de signaux temps réel architecturés sur un FPGA, 

Ce VST de 2^e génération permet en effet aux utilisateurs de générer et de mesurer simultanément jusqu'à 32 porteuses LTE, chacune dotée d'une bande passante de 20 MHz, et utiliser le logiciel pour spécifier des plans d'espacement entre porteuses. Dans cette version du logiciel NI-RFmx, des améliorations ont aussi été apportées aux algorithmes pour écourter la durée des mesures. En l'installant, les ingénieurs chargés par exemple d'effectuer des mesures spectrales et de qualité de modulation dans le cadre d'applications sans fil de type UMTS/HSPA+ ou LTE/LTE-Advanced Pro peuvent constater un gain de temps pouvant atteindre jusqu'à 33%, notamment lors des mesures d'EVM (Error Vector Magnitude) pour appréhender la qualité de la modulation.

Au-delà, NI-RFmx peut également servir dans le cadre de mesures de distorsion d'intermodulation, d'interception du troisième ordre, de facteur Y et de facteur de bruit de source froide. L'analyseur de signaux RF PXIe-5668R prend en charge ces mesures, de sorte que les ingénieurs peuvent configurer des cas de tests de facteur de bruit et de distorsion d'intermodulation en profitant des performances offertes par la technologie PXI.