Le fournisseur d’instruments de test et mesure Tektronix étoffe sa gamme de testeurs de taux d’erreur (BERT, Bit Error Rate) avec des instruments capables d'effectuer le test de protocoles série à 32 Gbit/s. Une première sur le marché ...qui ouvre la voie au test des interfaces rapides de nouvelle génération, en l’occurrence le PCI Express 4.0, l’USB 3.1 et/ou le protocole série point à point SAS-4 (Serial Attached SCSI) pour la connexion à des mémoires de masse.

La série des BERTScope BSX, tel est leur nom, sera disponible en version 12,5 Gbit/s, 24 Gbit/s et donc 32 Gbit/s avec à chaque fois des outils d’automatisation poussée des tests à réaliser sur ces interfaces complexes. Objectif : améliorer la répétabilité et l’exactitude des mesures réalisées, quel que soit l’opérateur. Sont d'ailleurs intégrés dans ces instruments un équaliseur pour la ligne de transmission, une horloge de référence démultipliée et la possibilité de générer des interférences.

Au-delà, les testeurs de taux d’erreur BSX enregistrent en continu le contexte d’un test (timing, position des bits…) pour chaque erreur de bit détectée. Des informations utilisées par la suite dans des outils de calcul de sensibilité des patterns (trames), d’émulation de correction d’erreurs… afin que les utilisateurs comprennent mieux les facteurs contributifs aux erreurs de bit.

« Tester un récepteur d’interface série rapide n’est pas seulement obtenir un taux d'erreur, c'est aussi comprendre pourquoi on obtient telle ou telle valeur ou bien pourquoi un échec de reconnaissance (handshaking) apparaît, explique Brian Reich, directeur général en charge des oscilloscopes haut de gamme chez Tektronix. La série BSX offre de ce point de vue une visibilité unique sur l’origine des problèmes au niveau de la couche physique en capturant la position dans les trames et le timing des erreurs de bits. »