L’analyseur de réseau vectoriel NI PXIe-5633 et les capacités de synchronisation du transcepteur de signaux vectoriels NI PXIe-5860, annoncés par Emerson, ont pour ambition d’aider les ingénieurs à faire évoluer leur flux de travail sur des systèmes RF complexes.
Ainsi, grâce à de nouvelles capacités d’analyse de réseau vectoriel à quatre ports, il est possible de réaliser des caractérisation plus évolués de dispositifs RF sous test, tandis qu’une synchronisation optimisée apportée par les évolutions logicielles du transcepteur NI PXIe-5860 favorise les flux de d’analyse de systèmes MIMO. Et ce au sein d’une plateforme PXIe unifiée de test RF qui étend les flux de travail automatisés de la validation jusqu’à la production.
En d’autres termes, l’analyseur de réseau vectoriel à quatre ports NI PXIe-5633 - qui travaille sur la gamme de fréquence de 50 MHz à 8 GHz, 12 GHz, 18 GHz ou 26.5 GHz - associé à des améliorations logicielles axées sur la synchronisation pour le transcepteur vectoriel de signaux NI PXIe-5860, étend les capacités de validation RF à de nouvelles applications MIMO (Multiple Input Multiple Output) et de mesure des paramètres S multiports au sein de la plateforme NI PXI pilotée par logiciel.
Les ingénieurs peuvent notamment réaliser avec ces deux instruments côte à côte dans un châssis la caractérisation des paramètres S parallèlement aux mesures de signaux RF modulés à travers une seule connexion RF.
Pour rappel, un transcepteur de signaux vectoriels est un instrument qui associe un générateur et un analyseur de signaux vectoriels en bande de base et RF avec en sus un FPGA programmable par l’utilisateur, ainsi que des interfaces numériques parallèles et série haute vitesse pour le traitement et le contrôle/commande de signaux temps réel, de la bande de base jusqu’aux ondes millimétriques.
Les capacités de ces deux instruments au standard PXIe permettront aux ingénieurs, selon Emerson, d’étendre les capacités de validation RF grâce à des fonctions d’analyse de réseau vectoriel à quatre ports, de relever les difficultés des tests de dispositifs sans fil de nouvelle génération, de consolider les mesures au sein d’un système unique en combinant l’analyse de réseau et les mesures RF modulées dans une seule architecture PXI, et enfin de construire des systèmes de test adaptables grâce à une plateforme évolutive qui étend les flux de travail de mesure automatisé.
« Les tests RF ne consistent plus uniquement à valider des composants individuels de manière isolée, explique Kevin Schultz, directeur de la technologie de NI au sein de l’activité test et mesure d’Emerson. À mesure que les systèmes sans fil deviennent plus distribués, définis par logiciel et fortement axés sur les antennes, les ingénieurs ont besoin d’architectures de test qui évoluent aussi rapidement que les technologies qu’ils valident. Dans ce cadre notre volonté est d’aider les ingénieurs à construire des infrastructures de test adaptables qui prennent en charge la validation au niveau système.»
D’un point de vue technique, l’analyseur de réseau vectoriel NI PXIe-5633 qui se présente sous la forme d’une carte PXI Express de 3U de hauteur en simple largeur, affiche une plage dynamique de 146 dB (typique) et une puissance de sortie maximale de 18 dBm.
Quant au PXIe-5860, ce transcepteur de signaux vectoriels à double canal de 8,5 GHz affiche une bande passante temps réel d’entrée de 1 GHz. L’instrument combine deux générateurs de signaux vectoriels et deux analyseurs de signaux vectoriels en un seul instrument PXI Express à deux emplacements. Il est notamment utilisé pour réaliser des tests d’amplitude du vecteur d’erreur (EVM) pour les normes cellulaires et sans fil telles que Wi-Fi 7 et le 5G NR.
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