Pour sa troisième génération de solutions de test paramétrique P9000, Keysight Technologies introduit au sein du système complet P9000 le module P9015A dont les caractéristiques permettent de répondre à la tendance de l'augmentation des volumes de test et aux besoins de test des semi-conducteurs conçus avec des interconnexions multicouches....

- Mesure des valeurs des capacités de fuite

- Cible les procédés technologiques avancés pour les semi-conducteurs

- Assure la mesure en parallèle sur 100 broches

- Meilleure mesure capacitive par broche via le procédé DCM (Direct Charge Measurement)

- Test deux fois plus rapide par rapport au mesures LCR classiques