La firme britannique XJTAG, l'un des principaux fournisseurs mondiaux de solutions matérielles et logicielles de test JTAG/boundary scan conformes à la norme IEEE 1149.x, propose avec la version 3.8 de ses outils une approche utilisateur entièrement revue qui autorise, selon la société, des développements de tests JTAG plus intelligents et plus rapides.... Objectif : obtenir un débogage précis, une programmation fluide et une meilleure analyse de la couverture de test.

Dans cette version de l’outil (distribué en France par Cynetis Embedded et ISIT), la manière dont les données sont visualisées est mieux contrôlée, car les détails relatifs au fonctionnement des blocs logiques et les données enregistrées sur les broches sont plus facilement visibles.

Concrètement, le débogage visuel de la fonction Waveform Viewer, disponible désormais au sein de l’environnement de programmation XJDeveloper, autorise l’affichage direct des valeurs des broches lues ou contrôlées via XJEase (langage haut niveau de description de test). C'est une manière de visualiser ce que fait le système de test et comment il enregistre les erreurs détectées. Au-delà, la forme d'onde détaillée des valeurs des broches affichées dans Waveform Viewer facilite non seulement le débogage du code de développement des tests, mais aussi la comparaison avec les diagrammes temporels fournis au sein des fiches techniques des fournisseurs de circuits. Une analyse ciblée des signaux qui, selon XJTAG, permet un examen détaillé de tout comportement inattendu de manière claire et visuelle.

De son côté, le module de visualisation du layout disponible sur tous les outils XJTAG (le Layout Viewer) permet une ouverture plus rapide des projets, avec une résolution visuelle élevée pour aider les ingénieurs à cibler rapidement les défauts potentiels.

Enfin, la couverture de test est mieux compréhensible, avec la possibilité de savoir où celle-ci doit être étendue.